Ubicación: Sótano edificio Beta.
Responsable: Dr. José Luis Sánchez Llamazares.
Utilidad: Medición de propiedades térmicas, magnéticas y eléctricas de materiales desde 1.9 hasta 400 K de temperatura y con un campo de ± 9 Teslas.
Tipo de muestra: Sólidos, polvos y cintas delgadas.
Preparación: Montaje directo sobre porta muestras con pegamento epóxico o cinta adhesiva Kapton.
Limitaciones: Muestras de 1 a 500 mg. Portamuestras: paleta de cuarzo de 4 mm de ancho, discos de 2.4 cm de diámetro y tubo de teflón de 4 mm de diámetro por 5 mm de largo.

Ubicación: Sótano edificio Beta.
Responsable: Dr. José Luis Sánchez Llamazares.
Utilidad: Medición de propiedades magnéticas de materiales desde 1.9 hasta 400 K de temperatura y con un campo de 9Teslas.
No utiliza helio ni ningún otro líquido refrigerantes. Dispone de un compresor de reciente desarrollo que enfria la bobina superconductora que genera el campo magnético.
Tipo de muestras para la medición de propiedades magnéticas: trozos sólidos, polvos y cintas delgadas.
Tipo de muestras para la medición de propiedades eléctricas y térmicas: trozos sólidos y cintas delgadas.
Preparación de muestras para la medición de porpiedades magnéticas: Montaje directo sobre: (a) un portamuestras de cuarzo mediante un barniz especial o cinta adhesiva Kapton (en el caso de trozos); (b) un portamuestras propio que se suministra al usuario en el caso de muestras en polvo; (c) un portamuestras propio que se suministra al usuario en el caso de muestras en forma de películas delgadas.
Limitaciones: Muestras con masa entre 1 y 50 mg.

Ubicación: Planta baja edificio Beta.
Responsable: Dr. Héctor Gabriel Silva Pereyra
Utilidad: Análisis morfológico de nanoestructuras, patrones de difracción de electrones, determinación de composición química por espectroscopía de dispersión de energía (EDS), Espectroscopía de pérdida de energía de electrones (EELS) y Difracción en Precesión.
Tipo de muestra: Sólidos finamente pulverizados o adelgazados a nivel nanometrico.
Preparación: Molienda mecánica y suspensión en rejilla de cobre, adelgazamiento electroquímico, adelgazamiento por erosión ionica (Ion Milling).
Limitaciones: No se pueden introducir sólidos con un diámetro mayor de 3 mm, líquidos o gases.

Ubicación: Planta baja edificio Beta.
Responsables: Dra. Olga Araceli Patrón Soberano y Dr. Héctor Gabriel Silva Pereyra.
Utilidad: Análisis morfológico de nanoestructuras y patrones de difracción de electrones.
Tipo de muestra: Sólidos finamente pulverizados o adelgazados a nivel nanometrico.
Preparación: Molienda mecánica y suspensión en rejilla de cobre, discos adelgazados por electropulido.
Limitaciones: No se pueden introducir sólidos con un diámetro mayor de 3 mm, líquidos ni gases.

Ubicación: Planta baja edificio Beta.
Responsable: Dra. Gladis Judith Labrada Delgado
Utilidad: Análisis morfológico superficial por electrones secundarios, análisis químico por espectroscopía de dispersión de energía (EDS) y preparación de muestras ultra delgadas.
Tipo de muestra: Sólidos y polvos.
Preparación: Montaje directo sobre cinta adhesiva de carbono o pintura de plata en porta muestra (pin) de aluminio. Para muestras no conductoras se aplica un recubrimiento fino de oro.
Limitaciones: No se pueden introducir líquidos ni gases. El tamaño de muestra se limita a un máximo de 8 cm de diámetro y una altura de 5 cm aproximadamente. Resolución de 1 nm a 15 kV en modo de barrido y 5 nm a 30 kV en el modo FIB.

Ubicación: Planta baja edificio Beta.
Responsables: Dra. Gladis Judith Labrada Delgado y M. en C. Ana Iris Peña Maldonado.
Utilidad: Análisis morfológico superficial, análisis por electrones retrodispersados y análisis químico por espectroscopía de dispersión de energía (EDS). Cuenta con una celda de temperatura controlada (± 20 °C). Se puede operar con una humedad de 10 a 100% dependiendo de la presión, la cual varia de 10 a 130 Pa (0.075 – 1.0 Torrs) en bajo vacío y de 130 a 2600 Pa (1.0 – 19.5 Torrs) en modo ambiental.
Tipo de muestra: Sólidos, polvos y materiales biológicos en solución acuosa en el modo ambiental.
Preparación: Montaje directo sobre cinta adhesiva de carbono o pintura de plata en porta muestra (pin) de aluminio. Para muestras no conductoras se aplica un recubrimiento fino de oro.
Limitaciones: No se pueden introducir gases. El tamaño de muestra se limita a un máximo de 10 cm2 aproximadamente. Resolución: 3 – 5 nm a 30 kV.

Ubicación: Planta baja edificio Beta.
Responsables: Dra. Gladis Judith Labrada Delgado y M. en C. Ana Iris Peña Maldonado.
Utilidad: Análisis morfológico superficial por electrones secundarios y análisis químico por espectroscopía de dispersión de energía (EDS) y análisis en modo STEM (microscopia electrónica de barrido en modo de transmisión).
Tipo de muestra: Sólidos y polvos.
Preparación: Montaje directo sobre cinta adhesiva de carbono o pintura de plata en porta muestra (pin) de aluminio. Para muestras no conductoras se aplica un recubrimiento fino de oro.
Limitaciones: No es posible analizar líquidos ni gases. El tamaño de muestra se limita a un máximo de 10 cm2 aproximadamente. Resolución de 2 nm.

Ubicación: Planta baja edificio Beta.
Responsable: M. en C. Ana Iris Peña Maldonado.
Utilidad: Análisis topográfico de superficies a escala nanométrica. Detección de fuerzas del orden de nanoNewtons (nN). Medición de visco-elasticidad y dureza de la muestra.
Tipo de muestra: Sólidos y películas delgadas macroscópicamente planas, muestras biológicas.
Preparación: La muestra debe ser lo más plana y homogénea posible, sin importar si es conductora, excepto para mediciones de STM.
Limitaciones: No es posible analizar líquidos ni gases. Muestras con areas menores de 2.5 cm2 aproximadamente. El area de barrido sobre la muestra se limita a 25 μm2.
Tipo de puntas: la cantidad de puntas presentes en el mercado es muy variada, presentando diversas características, que van desde la forma de la punta, la forma del cantiléver, hasta la constante de fuerza y resonancia, entre otras. Por esto motivos sólo se cuenta con puntas de uso general.
El intervalo de barrido depende del scanner, siendo el más grande (WZD) capaz de analizar una área de 50 µm2 para (x, y) y 10 µm para z, por lo que la resolución es menor; El scanner STD o estándar (usualmente montado) tiene un intervalo de 10 µm2 para (x, y) y 3 µm para z.

Ubicación: Planta baja edificio Beta.
Responsable: Dr. Emilio Muñoz Sandoval.
Utilidad: Depósito de hasta 6 materiales por medio de evaporación térmica, o ablación laser. Análisis de plasma, medición del espesor con balanza de cuarzo o por elipsometría.
Tipo de muestra: Sustratos y soportes sólidos.
Preparación: Ninguna.
Limitaciones: soportes de hasta 125 mm de diámetro o sustratos de 100X100 mm2.

Ubicación: Planta baja edificio Beta.
Responsable: M. en C. Beatriz Adriana Rivera Escoto
Utilidad: Sirve para caracterizar polvos de materiales cristalinos por medio del difractograma de rayos X.
Tipo de muestra: Sólidos cristalinos pulverizados y películas delgadas.
Preparación: Molienda mecánica.
Limitaciones: No se pueden analizar líquidos ni gases. El análisis requiere cubrir la superficie del porta muestras de 1.5 cm2 aproximadamente.

Ubicación: Tercer nivel del edificio Beta.
Responsable: M. en C. Beatriz Adriana Rivera Escoto.
Utilidad: Identificación y caracterización de muestras por medio de sus diferentes modos de vibración
Tipo de muestra: Sólidos, polvos, material biológico.
Preparación: Montar sobre una cinta adhesiva de doble unión en un porta objetos
Limitaciones: Debido al arreglo geométrico del equipo no se pueden analizar líquidos ni gases.

Ubicación: Tercer nivel del edificio Beta.
Responsable: Dra. Ana Paulina Barba de la Rosa
Utilidad: Identificación cuantificación de componentes en mezclas de líquidos a escala nanométrica y capilar.
Tipo de muestra: Líquidos y soluciones biológicas.
Preparación: Ninguna.
Limitaciones: No permite analizar gases.